SRM 1134低合金高硅鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST)  是一種在退火條件下發(fā)布的低合金鋼，含有大量硅。 SRM 1134 旨在用于評(píng)估和校準(zhǔn)化學(xué)和儀器分析方法。 SRM 1134 的一個(gè)單元由一個(gè)直徑約 31 毫米、厚 19 毫米的圓盤(pán)組成。

認(rèn)證質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

被測(cè)量是 SRM 1134 中每種成分的認(rèn)證值。表 1 中以質(zhì)量分?jǐn)?shù)形式報(bào)告了 10 種成分的認(rèn)證值 [1]。賦值類(lèi)別基于 NIST 對(duì)化學(xué)參考材料 [2] 使用的術(shù)語(yǔ)和模式的定義。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對(duì)其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏?lái)源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi)。認(rèn)證值是根據(jù) NIST 和合作實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的分析結(jié)果對(duì)真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)。計(jì)量溯源性是導(dǎo)出的 SI 單位的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（以百分比表示）。

參考質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

被測(cè)量是表 2 中報(bào)告的鋁的參考值。參考值是對(duì)真實(shí)值的最佳估計(jì)的非認(rèn)證值；但是，該值不符合 NIST 認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)，并且提供了相關(guān)的不確定性，可能不包括所有來(lái)源不確定性 [2]。計(jì)量溯源性是導(dǎo)出的 SI 單位的質(zhì)量分?jǐn)?shù)（以百分比表示）。信息來(lái)評(píng)估與該值相關(guān)的不確定性。信息值不能用于建立計(jì)量溯源性。

認(rèn)證到期：

SRM 1134低合金高硅鋼標(biāo)準(zhǔn)品(美國(guó)NIST)   的認(rèn)證在規(guī)定的不確定性范圍內(nèi)無(wú)限期有效，前提是按照本證書(shū)中給出的說(shuō)明處理和存儲(chǔ) SRM（參見(jiàn)“使用說(shuō)明"）。因此，不需要定期重新校準(zhǔn)或重新認(rèn)證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改，則認(rèn)證無(wú)效。

SRM 認(rèn)證的維護(hù)：

NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控此材料。如果在本證書(shū)到期前發(fā)生影響認(rèn)證的實(shí)質(zhì)性技術(shù)變更，NIST 將通知購(gòu)買(mǎi)者。注冊(cè)（見(jiàn)附件，或在線注冊(cè)）將有助于通知。

使用說(shuō)明

測(cè)試表面是與標(biāo)記表面相對(duì)的一側(cè)，其中包括 SRM 編號(hào)。該裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過(guò)認(rèn)證。但是，警告用戶(hù)在使用 X 射線熒光光譜法時(shí)不要測(cè)量厚度小于 2 毫米的圓盤(pán)。每個(gè)封裝的磁盤(pán)都是通過(guò)使用銑削完成測(cè)試表面來(lái)準(zhǔn)備的機(jī)器。用戶(hù)必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶(hù)在重修磁盤(pán)或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心，因?yàn)檫@些過(guò)程可能會(huì)污染表面。 NIST 發(fā)現(xiàn)在表面磨削過(guò)程中必須經(jīng)常更換砂紙。用過(guò)的紙失去了去除鋼材表面污染物的能力。不使用時(shí)，應(yīng)將材料存放在其原始容器中，置于陰涼干燥的地方。使用實(shí)心圓盤(pán)和由圓盤(pán)制備的芯片測(cè)試該材料。認(rèn)證值被認(rèn)為代表了材料的總體平均成分。