![SRM1155a不銹鋼Cr18Ni12Mo2標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)](http://img80.chem17.com/gxhpic_c005e5274f/6177b7fad4b495c9e274bc8968b7d6f46f48e1840a08bd5354dbc2e440ad221c3b573fc643e54c9a.jpg)
SRM1155a不銹鋼Cr18Ni12Mo2標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)
簡(jiǎn)要描述:SRM1155a不銹鋼Cr18Ni12Mo2標(biāo)準(zhǔn)品(NIST)旨在與基于化學(xué)過(guò)程和儀器技術(shù)的元素分析測(cè)試方法一起使用。
所屬分類:美國(guó)NIST標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)
更新時(shí)間:2022-04-02
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
品牌 | NIST/美國(guó) | 貨號(hào) | SRM 1155a |
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規(guī)格 | disk | 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
主要用途 | 主要用于光學(xué)發(fā)射和x射線光譜分析方法旨在與基于化學(xué)過(guò)程和儀器技術(shù)的元素分析測(cè)試方 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,冶金 |
SRM1155a不銹鋼Cr18Ni12Mo2標(biāo)準(zhǔn)品(NIST) 旨在與基于化學(xué)過(guò)程和儀器技術(shù)的元素分析測(cè)試方法一起使用。 SRM 1155a 的一個(gè)單元是一個(gè)直徑 3.2 厘米、厚 1.9 厘米的實(shí)心圓盤。
認(rèn)證的質(zhì)量分?jǐn)?shù)值:
認(rèn)證的質(zhì)量分?jǐn)?shù)值在表 1 [1] 中提供。賦值類別基于 NIST 用于化學(xué)參考物質(zhì) [2] 認(rèn)證的術(shù)語(yǔ)和模式的定義。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對(duì)其準(zhǔn)確性有最高置信度的值,因?yàn)樗?/span>已知或可疑的偏見來(lái)源已被調(diào)查或考慮。認(rèn)證值是根據(jù) NIST 和合作實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行的分析結(jié)果對(duì)真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)。
參考質(zhì)量分?jǐn)?shù)值:
參考質(zhì)量分?jǐn)?shù)值在表 2 中提供。參考值是未經(jīng)認(rèn)證的值,是當(dāng)前對(duì)真實(shí)值的最佳估計(jì);但是,這些值不符合 NIST 的認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn) [2],并且提供了相關(guān)的不確定性,這些不確定性可能僅反映測(cè)量精度,不包括所有不確定性來(lái)源,或者可能反映多種分析方法之間缺乏足夠的一致性。
信息質(zhì)量分?jǐn)?shù)值:
表 3 中提供了信息質(zhì)量分?jǐn)?shù)值。信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶感興趣的值,但沒(méi)有足夠的信息來(lái)評(píng)估與值相關(guān)的不確定性 [2] .信息值不能用于建立計(jì)量可追溯性。
認(rèn)證到期:
SRM1155a不銹鋼Cr18Ni12Mo2標(biāo)準(zhǔn)品(NIST) 的認(rèn)證在規(guī)定的測(cè)量不確定度范圍內(nèi)無(wú)限期有效,前提是按照本證書中給出的說(shuō)明處理和存儲(chǔ) SRM(參見“使用說(shuō)明")。因此,不需要定期重新校準(zhǔn)或重新認(rèn)證此 SRM。如果 SRM 損壞、污染或以其他方式修改,則認(rèn)證無(wú)效。
SRM 認(rèn)證的維護(hù):
NIST 將在其認(rèn)證期間監(jiān)控此 SRM。如果發(fā)生影響認(rèn)證的實(shí)質(zhì)性技術(shù)變化,NIST 將通知購(gòu)買者。注冊(cè)(見附件或在線注冊(cè))將有助于通知。
使用說(shuō)明
測(cè)試面是沒(méi)有標(biāo)有SRM編號(hào)和菱形標(biāo)志的那一面。該裝置的整個(gè)厚度都經(jīng)過(guò)認(rèn)證。每個(gè)封裝的磁盤都是通過(guò)使用銑床完成測(cè)試表面來(lái)準(zhǔn)備的。用戶必須為每種分析技術(shù)確定正確的表面處理程序。提醒用戶在重修磁盤或進(jìn)行額外拋光時(shí)要小心,因?yàn)檫@些過(guò)程可能會(huì)污染磁盤表面。材料應(yīng)存放在其原始容器中,置于陰涼干燥的地方。使用實(shí)心圓盤和由圓盤制備的芯片測(cè)試該材料。
均勻性測(cè)試的結(jié)果表明,在對(duì)這種材料進(jìn)行取樣時(shí)應(yīng)小心。對(duì)于需要材料碎裂的測(cè)試方法,建議的最小樣品量為 200 毫克。對(duì)于直接測(cè)量磁盤表面的測(cè)試方法,建議仔細(xì)選擇測(cè)量區(qū)域?;鸹ㄔ春洼x光放電測(cè)量應(yīng)在表面的四個(gè)或更多不同位置進(jìn)行; X 射線熒光法應(yīng)觀察 SRM 單位至少四分之一的表面積。該材料不適合用于小面積的直接測(cè)量方法,例如微 X 射線熒光和激光燒蝕技術(shù)。