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SRM454非合金銅XI標準品(美國NIST)適用于銅材料的痕量分析，適用于所有適用于非合金銅成分分析的技術(shù)，特別適用于用光學發(fā)射分析方法進行校準。

SRM 457非合金銅IV標準品(美國NIST)旨在用于驗證銅材料痕量元素分析的化學和儀器分析方法。

SRM 458鈹-銅(17510)標準品(美國NIST)采用0.50至1.18mm篩孔(35~16目)大小的芯片形式。它主要用于化學分析方法。

SRM 459鈹-銅(17200)標準品(美國NIST)采用0.50至1.18mm篩孔(35~16目)大小的芯片形式。它主要用于化學分析方法。

SRM 460鈹銅合金標準品(美國NIST)為芯片形式，尺寸分別為0.50和1.18mm篩口(35目和16目)。用于化學分析方法中。